Kategóriák
Előző
Következő

JC TXS-BAS Logikai Alaplap Réteges Tesztelő Készülék iPhone XS/XS Max

49,00 €
A feltüntetett árak ÁFA nélkül értendők.A vonatkozó adók a fizetéskor kerülnek kiszámításra.
PayPal
Visa
Mastercard
Amex
G-Pay
PPFizessen 3 kamatmentes részletben
Ez a JC TXS-BAS réteges tesztelő készülék kifejezetten az iPhone XS és iPhone XS Max modellek logikai alaplapjainak réteges tesztelésére szolgál. Lehetővé teszi a technikusok számára, hogy precízen diagnosztizálják az alaplap rétegeinek hibáit, segítve a hatékony és pontos javításokat.